Fotovoltaïsche: Modulescheuren, hotspots en PID-effecten zijn drie belangrijke factoren die de prestaties van fotovoltaïsche modules van kristallijn silicium beïnvloeden. Vandaag zal ik u de redenen voor celscheuren laten zien, hoe u ze kunt identificeren en voorkomen.
1. Vorming en classificatie van scheuren in fotovoltaïsche modules
Cracks are a relatively common defect in crystalline silicon photovoltaic modules. In layman's terms, they are micro-cracks that are invisible to the naked eye. Due to the characteristics of its own crystal structure, crystalline silicon components are very prone to cracking. In the process flow of crystalline silicon module production, many links may cause cell cracks. The root cause of cracks
Externe kracht: de batterij wordt beïnvloed door externe kracht tijdens lassen, lamineren, inlijsten of hanteren, testen, enz. Wanneer de parameters onjuist zijn ingesteld, zal apparatuurstoring of onjuiste werking scheuren veroorzaken.
Hoge temperatuur: de cel wordt niet bij lage temperatuur voorverwarmd en krijgt dan plotseling in korte tijd een hoge temperatuur en zet dan uit, wat scheuren zal veroorzaken, zoals een te hoge lastemperatuur, een onredelijke instelling van de lamineertemperatuur en andere parameters.
Grondstoffen: Gebreken in grondstoffen zijn ook een van de belangrijkste factoren die leiden tot scheurvorming.
Afhankelijk van de vorm van de celscheur, kan deze grofweg worden onderverdeeld in 5 soorten: boomscheur, uitgebreide scheur, schuine scheur, parallel aan de stroomrail, loodrecht op het rooster en scheuren die de hele cel binnendringen.
2. The impact of "cracking" on component performance
De stroom die wordt gegenereerd door zonnecellen van kristallijn silicium wordt voornamelijk opgevangen en geëxporteerd door de raillijnen en dunne rasterlijnen waarvan de oppervlakken loodrecht op elkaar staan. Daarom, wanneer scheuren (meestal scheuren parallel aan de rails) ervoor zorgen dat de dunne rasterlijnen breken, zal de stroom niet effectief aan de rails worden geleverd, wat resulteert in gedeeltelijk of zelfs falen van de cel, en kan ook puin, hotspots, enz. veroorzaken ., veroorzaken tegelijkertijd de vermogensvermindering van de componenten.
Third, the method of identifying "cracks"
EL (elektroluminescentie, elektroluminescentie) is een soort interne defectdetectieapparatuur van zonnecellen of componenten, een eenvoudige en effectieve methode om scheuren te detecteren. Met behulp van het elektroluminescentieprincipe van kristallijn silicium wordt het nabije-infraroodbeeld van het onderdeel vastgelegd door een infraroodcamera met hoge-resolutie om de defecten van het onderdeel vast te stellen. Het heeft de voordelen van een hoge gevoeligheid, hoge detectiesnelheid en intuïtieve resultaten. Onderstaande foto is het testresultaat van EL, waarop duidelijk diverse mankementen en scheurtjes te zien zijn.
Fourth, the reasons for the formation of "cracks"
There are many factors that cause module cracks, and there are many types of cracks, but not all cracks will affect the cells, not to mention "hidden" discoloration, as long as scientific prevention can properly prevent the modules from cracking. During the production process, improper external force intervention should be avoided for the cells, and attention should be paid to the temperature range of the storage environment. During the welding process, the battery should be kept warm in advance (hand welding). The temperature of the soldering iron should meet the requirements. In the process of module production, transportation, installation and maintenance, considering the cracking characteristics of crystalline silicon modules, it is necessary to pay attention to and improve the operation process in each process of installing the power station to minimize the occurrence of module cracks.
Vijf, de belangrijkste punten om scheuren in fotovoltaïsche modules te voorkomen
Vermijd tijdens het productieproces en de daaropvolgende opslag, transport en installatie ongepaste externe krachtingrijpen op de batterijcellen en let ook op het temperatuurveranderingsbereik van de opslagomgeving.